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對于三坐標測量機來說，測頭之間并無絕對優(yōu)劣之分。不同測頭的適用場景并不一樣，而在其適用環(huán)境下該測頭就能發(fā)揮更大作用。同樣的，光學側頭和接觸式測頭也是如此。
使用光學式測頭后得出的結果能與CAD模型做對比，獲取零件整體/局部輪廓的偏差等等。但在一些特殊工件，比如一些微小軟等不適宜進行接觸測量工件，光學式測頭要優(yōu)于接觸式測頭。同時在測量效率方面，光學式測頭也要由于接觸式測頭，更適合進行大批量高效測量。
接觸式測頭在測量特定位置的三維曲線時，比如在測量透平葉片時，可能會存在半徑補償余弦誤差或實際測點位置出現偏差的情況。而非接觸式測頭能很好地回避這一問題。因為它是直接利用光點的反射信號來獲取被測點的坐標，不存在半徑補償的環(huán)節(jié)，因此能夠完全杜絕余弦誤差產生的源頭。同時，葉片也是較為輕薄的工件，用接觸式測頭測量可能會使工件變形而對測量結果產生影響，進而產生測量偏差等。
需要做三維測量時，單獨的光學測頭就難以進行測量任務。需要進行測量時，往往需要配合接觸式測頭一起，由接觸式測頭負責建立測量基準進行。光學測頭雖然有一些接觸式測頭無法提供的優(yōu)勢，但在需要L型測針的場合或進行如徑深比很小的孔測量時，接觸式測頭要更適用。
在實際測量中，我們要分析好自己的使用場景，選擇正確的測頭。除了測頭之外，三坐標測量機的性能、售后服務等也很重要。思瑞三坐標測量機憑借出眾的性價比，周到的售后維護獲得越來越多用戶的信賴與認可。
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