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濺射是半導(dǎo)體制造中一道不可或缺的工序，用以制備薄膜材料。在實(shí)際生產(chǎn)中通過使用離子轟擊的方式將靶材上的原子逸出至單晶硅基板上，形成金屬薄膜。 靶材是濺射工藝中使用中的關(guān)鍵核心材料。目前靶材行業(yè)被美日大企業(yè)壟斷把控，其他廠商想要在激烈的競爭中脫穎而出，就需要在技術(shù)、質(zhì)量實(shí)力后來居上。
葉片在汽輪機(jī)、航空工業(yè)等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛，發(fā)揮著重大作用。隨著技術(shù)、經(jīng)濟(jì)的發(fā)展，相關(guān)設(shè)備的性能越來月先進(jìn)，同時(shí)汽輪機(jī)的結(jié)構(gòu)也更為復(fù)雜，因而葉片測量的重要性就越發(fā)凸顯。
三坐標(biāo)迭代法坐標(biāo)系的創(chuàng)建辦法簡介 對于葉片、薄壁片等沒有足夠常規(guī)特征或基準(zhǔn)點(diǎn)的工件來說，適合用迭代法建三坐標(biāo)測量。
三坐標(biāo)作為一種精密儀器，其原理簡單來說即對工件進(jìn)行坐標(biāo)數(shù)值采集，逆合成各種測量元素后再進(jìn)行位置公差等數(shù)值計(jì)算的儀器。下面對此進(jìn)行展開描述，與大家一同認(rèn)識三坐標(biāo)測量儀。
隨著制造技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)要求的發(fā)展，傳統(tǒng)的測量工具如游標(biāo)卡尺等已經(jīng)越來越難以滿足測量需求。高精密的測量儀器在越來越多制造企業(yè)上得到應(yīng)用。在二維測量角度上，有影像測量儀
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